為了能夠適應各種形狀物體的掃描，EinScan三維掃描儀提供了豐富的拼接模式；接下來我們就以一些不易掃描的樣件為例，講解一些實用的掃描技巧，幫助大家快速獲取其高質量3D數據。

  技術科普講師：楊建龍，先臨三維專業級(ji)掃(sao)描儀(yi)資深(shen)應用工程師，資深(shen)3D數(shu)字(zi)化(hua)應用專家，深(shen)耕3D數(shu)字(zi)化(hua)多年，在三維數(shu)字(zi)化(hua)領域(yu)擁(yong)有豐富行業經驗(yan)。

  第8期

  通過往期的學習相信大(da)家已經了解到，在(zai)三(san)維(wei)掃描時，若選用標志(zhi)點拼接模(mo)式獲取樣件(jian)的三(san)維(wei)數據，我們需在(zai)物體(ti)表面粘貼足夠數量標志(zhi)點。

  上(shang)期講解，當遇到尺(chi)寸(cun)較小、結構(gou)簡單相似(si)性高、壁(bi)(bi)厚較薄(bo)的(de)(de)樣件時(shi)，我(wo)們(men)(men)可(ke)以利用(yong)圓(yuan)盤貼(tie)點的(de)(de)方式幫助獲取(qu)數據(ju);今天讓(rang)我(wo)們(men)(men)來看看面(mian)對尺(chi)寸(cun)較小、壁(bi)(bi)厚較薄(bo)的(de)(de)樣件時(shi)，可(ke)以采(cai)用(yong)的(de)(de)另一種掃描技巧。

  那么，楊老師具體是(shi)如何使用EinScan系列三(san)維(wei)掃描儀，獲取該類樣(yang)件的完整三(san)維(wei)數據(ju)呢？

  一、樣件基本情況分析

▲尺寸較(jiao)(jiao)小、壁(bi)厚較(jiao)(jiao)薄的樣(yang)件

  通過(guo)分析(xi)樣件，我(wo)們(men)會發現(xian)：

  1)  物(wu)體(ti)表面有(you)些許特征(zheng)，但物(wu)件較小，如果(guo)用特征(zheng)拼(pin)接(jie)會出現一些問題;

  2)  如果(guo)用轉臺(tai)編碼點拼接(jie)的方式直接(jie)翻(fan)轉掃描(miao)，由于過渡數(shu)(shu)據過少(shao)，前后面的數(shu)(shu)據將無法正常拼接(jie);

  3)  如果側立物體掃描，由于壁薄(bo)，前后過渡(du)數(shu)據(ju)過少，當數(shu)據(ju)優化時會出現錯(cuo)位(wei)。

  二、預處理

  為(wei)了(le)解決(jue)上(shang)述問題，我們可以，具體步驟為(wei)：

  1)  準(zhun)備幾個其他(ta)物(wu)體作為(wei)參考物(wu);

  2) 將物體(ti)用夾具側立放(fang)置在轉(zhuan)臺中(zhong)心(xin)，并(bing)在其(qi)旁邊放(fang)上參(can)考物，利(li)用它們完成掃描物體(ti)前后的過渡;

  三、掃描過程

  1)  用特(te)征(zheng)拼接(jie)進(jin)行掃(sao)描，掃(sao)描完成之后，不(bu)需要刪除(chu)其他(ta)數據(ju)(除(chu)了(le)粘連(lian)在掃(sao)描物體上的(de));

  2)將(jiang)物體墊高平(ping)放，拿開參考物，使(shi)用轉臺編碼(ma)點(dian)拼接進行掃(sao)描(miao);

  3)掃描完成(cheng)后(hou)，把(ba)多余(yu)的數據刪(shan)除;

  4)將物(wu)體翻面側立(li)放置在(zai)(zai)轉(zhuan)臺中心，并在(zai)(zai)其(qi)周(zhou)圍放上參(can)考物(wu)，利用參(can)考物(wu)完(wan)成掃(sao)描物(wu)體前后(hou)的過渡;

  5)用特征拼(pin)接進行掃描，掃描完成(cheng)之后，同樣不需(xu)要刪除其他數據(除了粘連(lian)在掃描物體上(shang)的(de));

  6)用手動拼接將兩組(zu)數(shu)據進行精(jing)準的拼接對齊;

  7)封(feng)裝模(mo)型

  以(yi)上就(jiu)是(shi)本期(qi)的所有內(nei)容啦(la)，在(zai)接下來的文(wen)章中，我們將(jiang)針對更多不同類型的不易掃描物體，系統分享實用的掃描技巧(qiao)。

       超多(duo)干貨內容，將這些內容融會貫通，可以輕松獲取(qu)眾多(duo)物件的三維(wei)數據哦。